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静电压痕仪使用方法图解
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。静电压痕仪是一种用来测量物...
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扫描电镜电压加不上是灯丝烧了吗
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。扫描电镜是一种高精度的检测...
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fmx-003静电压测量仪操作测量视频
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。FMX-003静电压测量仪...
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静电压痕仪的原理
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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静电测试标准及方法测叶片的电阻值
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。静电测试是一种常用的叶片电阻测量方法。在静电测试中,通过施加一个高压电源和一个低电压电源,在叶片表面形成一个电场,从而测量叶片...
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静电压痕仪使用方法图片
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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透射电镜制样步骤
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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静电测试电压
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。静电测试电压是一种用来检测...
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双束聚焦离子束显微镜不同电压对各类物质的影响
双束聚焦离子束显微镜(Dual束聚焦离子束显微镜,DFPIM)是一种先进的电子显微镜技术,可以对各类物质进行高分辨率的成像。不同的工作电压对DFPIM的成像效果有很大的影响。本文将探讨不同电压对各类物...
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芯片里晶体管
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。芯片中的晶体管:现代电子技术的核心随着信息技术的迅速发展,芯片已经成为了现代电子产品的核心。芯片是由许多微小的元件组成的,其中...
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